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新研究發(fā)現罕見遺傳腦病 6例患兒全部死亡
新華社悉尼1月28日電 由澳大利亞學者領導的一項新研究發(fā)現一種罕見遺傳腦病,會在導致輕度發(fā)燒或其他疾病的同時嚴重傷害患兒的神經系統(tǒng)。目前,全球共記錄6例兒童病例,他們全都在出現發(fā)燒或其他癥狀后迅速死亡。
研究人員近日在英國《腦》雜志上發(fā)表論文說,有關基因組檢測顯示,所有病例都出現隱性NAXD基因突變。NAXD基因突變給腦和心臟等關鍵組織帶來破壞性影響,誘發(fā)神經退行性病變與皮膚損傷等問題,最終導致兒童過早死亡。
參與研究的澳大利亞墨爾本大學妮科爾·范伯根等人解釋說,細胞在新陳代謝過程中會產生多余副產物,這些副產物如果不斷累積就會對細胞造成損傷。為解決這個問題,細胞進化出代謝修復系統(tǒng),利用酶來修復或清除代謝副產物,而NAXD基因編碼修復或清除細胞代謝物所必需的關鍵酶。
研究顯示,在NAXD基因突變患者中,細胞動力工廠——線粒體的功能受損,而發(fā)生突變的NAXD基因修復或清除代謝副產物的效率降低。
研究人員還發(fā)現,NAXD基因突變會誘發(fā)NAXD酶的不耐熱性,即溫度升高時,NAXD酶的活性降低。參與研究的盧森堡大學的卡羅爾·林斯特說:“這一發(fā)現至少部分解釋了為什么病人發(fā)病時伴有發(fā)熱?!?/p>
研究人員說,NAXD缺陷可被歸類為一種新型代謝物修復障礙疾病,而迄今人們只發(fā)現了少數幾種代謝物修復障礙疾病。由于NAXD缺陷的病因已被弄清楚,他們接下來將尋找這一疾病的治療方法。
編輯:秦云
關鍵詞:罕見遺傳腦病 死亡